人妻激情偷乱视频一区二区三区,国产精品无码AⅤ嫩草,国产精品大白屁股XXXXX,国产裸体美女永久免费无遮挡

咨詢電話

13526877955

當(dāng)前位置:首頁(yè)  >  技術(shù)文章  >  鄭州君達(dá)告訴你涂層測(cè)厚儀該如何選型

鄭州君達(dá)告訴你涂層測(cè)厚儀該如何選型

更新時(shí)間:2015-09-09      點(diǎn)擊次數(shù):2636
   涂層測(cè)厚儀采用單片機(jī)技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無(wú)校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕;且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn),其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的水平。

  涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂鍍層厚度。

  涂層測(cè)厚儀選型
  用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀,磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米,這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型,探頭與主機(jī)分離型,前者操作便捷,后者適用于測(cè)非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè),測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金,銀等金屬的厚度。
  兩用型
  儀器由德國(guó)生產(chǎn),集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能,可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如:
  * 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
  * 鋁、鎂材料上陽(yáng)氧化膜的厚度。
  * 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
  * 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。
  * 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
  儀器符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
  儀器特點(diǎn)
  * 采用雙功能內(nèi)置式探頭,自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料,并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行測(cè)量。
  * 設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),可以在測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。
  * 采用手機(jī)菜單式功能選擇方式,操作簡(jiǎn)便。
  * 可設(shè)定上下限值,測(cè)量結(jié)果出或符合上下限數(shù)值時(shí),儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。
  * 穩(wěn)定性高,通常不必校正便可長(zhǎng)期使用。
  技術(shù)規(guī)格
  量 程: 0~2000μm ,
  電 源: 兩節(jié)5號(hào)電池
  標(biāo)準(zhǔn)配置
  常規(guī)型
  對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。
  覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。
  覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。
  X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
  隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。
  采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。


涂層測(cè)厚儀
版權(quán)所有©2024 鄭州君達(dá)儀器儀表有限公司 All Rights Reserved    備案號(hào):豫ICP備09038024號(hào)-3    sitemap.xml    管理登陸    技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)